pct蒸煮老化箱具有超溫自動斷電保護功能，雙重二級保護系統(tǒng)，確保儀器及試件的安全，節(jié)能環(huán)保是當今先進的老化試驗設備。

    pct蒸煮老化箱一般稱為壓力鍋蒸煮試驗或是飽和蒸汽試驗，主要是將待測品置于嚴苛之溫度、飽和濕度(100%R.H.)[飽和水蒸氣]及壓力環(huán)境下測試，測試代測品耐高濕能力，針對印刷線路板(PCB&FPC)，用來進行材料吸濕率試驗、高壓蒸煮試驗..等試驗目的，如果待測品是半導體的話，則用來測試半導體封裝之抗?jié)駳饽芰?，待測品被放置嚴苛的溫濕度以及壓力環(huán)境下測試，如果半導體封裝的不好，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體之中，常見的故裝原因：爆米花效應、動金屬化區(qū)域腐蝕造成之斷路、封裝體引腳間因污染造成之短路..等相關問題。

    高溫蒸煮老化試驗箱是用來試驗 電線、電纜、 絕緣體或被覆之橡膠試片，以比較試片老化前與老化后之抗拉強度及伸長率。換氣式老化試驗箱以熱風循環(huán)方式，促使試片老化，內箱密閉性強，具有抽換內箱空氣裝置，設有超溫自動切斷保護裝置，符合ul-1581試驗要求。

   

pct蒸煮老化箱的性能

    操作環(huán)境需在室溫30℃以下且通風良好之條件下進行.

    1.溫度范圍: 110℃/ 132℃. (飽和蒸氣溫度)。

    2.濕度范圍: 100%RH . (飽和蒸氣濕度)。

    3.壓力范圍: 0.5Kg/cm2～2.0Kg/cm2控制點壓力(安全壓力容量3.5Kg/cm2 )。

    4.時間范圍: 0 ~ 999 小時可調。

    5.溫度分布:(+/-)2.0℃。

    6.升溫時間:RT ~ 132℃約35分鐘內. （控制點溫度）7.加壓時間:0.0Kg/cm2~ 2.0Kg/cm2約40分鐘內（控制點壓力）。

   

pct蒸煮老化箱的控制系統(tǒng)：

    1.微電腦飽和蒸氣溫度+時間+壓力顯示獨立控制器。

    2.本系統(tǒng)符合高壓加速老化之可靠度試驗規(guī)格:CNS、ISO、JIS、ASTM、DIN、BS、IEC、NACE、UL、MIL…。

    3.控制對象:微電腦+P.I.D.+S.S.R自動演算控制飽和蒸氣溫度。